1光纜冷彎試驗(yàn)方法  
                                                    冷彎應(yīng)按GJB 915A-1997方法202和下列補(bǔ)充實(shí)驗(yàn)條件進(jìn)行:  
                                                      ①芯軸外徑應(yīng)等于試樣小彎曲半徑;  
                                                      ②試驗(yàn)處理溫度應(yīng)為下限工作溫度(±2℃);  
                                                      ③芯軸上試樣卷繞圈數(shù)共6圈試樣。  
                                                      應(yīng)在試驗(yàn)后測(cè)量光透射性能變化并進(jìn)行外觀檢查。  
                                                    2光纜冷彎試驗(yàn)要求:  
                                                    光纜或者OFCC試樣按照上述試驗(yàn)方法進(jìn)行試驗(yàn)后,護(hù)套應(yīng)無(wú)裂紋、開裂或其他可能造成護(hù)套穿透的損壞。每根光纖的光透射性能應(yīng)不大于下表的規(guī)定值。  
                                                    更多試驗(yàn)機(jī)參考思明特網(wǎng)站。 
                                                    
                                                      
                                                         
                                                          光纖類型  | 
                                                        光透射性能變化允許值   | 
                                                       
                                                      
                                                        機(jī)械試驗(yàn) dB   | 
                                                        環(huán)境試驗(yàn) dB/Km   | 
                                                       
                                                      
                                                        多模   | 
                                                        0.5   | 
                                                        0.5   | 
                                                       
                                                      
                                                        單模   | 
                                                        0.2   | 
                                                        0.3   | 
                                                       
                                                     
                                                      
                                                    
                                                     
                                                    標(biāo)簽:試驗(yàn),檢測(cè) 
                                                      
  
                                                     |