溫度  
                                                    除了低溫箱,試驗(yàn)步驟中所有操作在 (23土 5)℃進(jìn)行。  
                                                    厚度  
                                                      根據(jù) GB/T 328. 5 測(cè)量每個(gè)試件的全厚度。  
                                                    彎曲  
                                                      沿長(zhǎng)度方向彎曲試件,將端部固定在一起,例如用膠粘帶,見(jiàn)圖 1. 卷材的上表面彎曲朝外,如此彎曲固定一個(gè)縱向、一個(gè)橫向試件,再卷材的上表面彎曲朝內(nèi),如此彎曲另外一個(gè)縱向和橫向試件。  
                                                    平板距離  
                                                      調(diào)節(jié)彎折試驗(yàn)機(jī)的兩個(gè)平板間的距離為試件全厚度(見(jiàn) 8.2) 的 3 倍.檢測(cè)平板間4 點(diǎn)的距離。  
                                                    試件位置  
                                                      放置彎曲試件在試驗(yàn)機(jī)上,膠帶端對(duì)著平行于彎板的轉(zhuǎn)軸如圖 1 所示。放置翻開(kāi)的彎折試驗(yàn)機(jī)和試件于調(diào)好規(guī)定溫度的低溫箱中。  
                                                    彎折  
                                                      放置 1 h 后,彎折試驗(yàn)機(jī)從超過(guò)90。的垂直位置到水平位置, 1 s 內(nèi)合上,保持該位置1 S ,整個(gè)操作  
                                                      過(guò)程在低溫箱中進(jìn)行。  
                                                    條件  
                                                      從試驗(yàn)機(jī)中取出試件,恢復(fù)到 (23土 5) "C.  
                                                    檢查  
                                                      用 6 倍放大鏡檢查試件彎折區(qū)域的裂紋或斷裂。  
                                                    臨界低溫彎折混度  
                                                      彎折程序每 5"C重復(fù)一次,范閣為:-40"C、 35"C、一30·C 、一 25·C 、 -20·C等,檢查,試件元裂紋和斷裂。  
                                                    結(jié)果表示  
                                                      重復(fù)進(jìn)行彎折程序(臨界低溫彎折混度),卷材的低溫彎折溫度,為任何試件不出現(xiàn)裂紋和斷裂的低的 5 ℃間隔。  
                                                      
                                                    
                                                     
                                                     
                                                       
                                                    標(biāo)簽:試驗(yàn),檢測(cè) 
                                                     
  
                                                     |